v3-S29. Descripción del Curso:
Este curso explora el papel crítico de la metrología y el control de procesos en la fabricación de semiconductores. Los participantes aprenderán cómo las técnicas avanzadas de medición, inspección, análisis y control garantizan la precisión del proceso, la mejora del rendimiento y la fiabilidad del dispositivo a escala nanométrica. Los temas clave incluyen metrología dimensional y de materiales, métodos de control estadístico, inspección mejorada por IA y tecnologías emergentes como la metrología cuántica y los gemelos digitales. A través de aplicaciones del mundo real y métricas de la industria, los estudiantes adquirirán las habilidades necesarias para monitorear, optimizar e innovar dentro de flujos de procesos de semiconductores cada vez más complejos.