v3-S29. Descrição do Curso:
Este curso explora o papel crítico da metrologia e do controle de processos na fabricação de semicondutores. Os participantes aprenderão como técnicas avançadas de medição, inspeção, análise e controle garantem a precisão do processo, a melhoria do rendimento e a confiabilidade dos dispositivos em escala nanométrica. Os principais tópicos incluem metrologia dimensional e de materiais, métodos de controle estatístico, inspeção aprimorada por IA e tecnologias emergentes como metrologia quântica e gêmeos digitais. Através de aplicações do mundo real e métricas da indústria, os alunos adquirirão as habilidades necessárias para monitorar, otimizar e inovar dentro de fluxos de processos de semicondutores cada vez mais complexos.